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卡尔蔡司 O-INSPECT纳米测量技术和光学测量技术

2016-02-22 09:15:56 点击: 来自:

无论是几毫米大小的插头,手机外壳,还是植入工件,O-INSPECT是的全能型仪器,轻松承担各种测量任务。

佳组合

O-INSPECT综合了佳的测量技术与光学技术,除了接触式测量系统之外,本测量机还具有光学传感器。O-INSPECT是在塑胶工业,医疗和汽车技术及密机械应用中的佳方案,特别是在快速,大批量和高度测量的零部件时。

重要特征
O-INSPECT使用了经过实际验证的结构原理——桥式测量机带有固定龙门架和移动式工作台,具有测量的高度性以及化性。同时具有多传感器技术的级标准配置。VAST集接触扫描和光学测量于一体。


机器技术
具有非常可靠的驱动技术,所有轴上使用密滚珠轴承。高动态的驱动与自动驱动控制,并且有导轨误差补偿技术(CAA计算机辅助度纠正)。O-INSPECT有着隐藏式的导轨和集成的减震系统,非常适合现场测量。O-INSPECT使用的组件都是经过测试验证的,包括了蔡司VAST XXT接触式探头,为光学测量设计的变焦镜头以及蔡司的密机械组件。

 

可配置的传感器
VAST XXT
ViScan

测量范围 (in mm)
400 x 400 x 200

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